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簡要描述：中圖儀器SJ5730測試表面粗糙度的儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-03-08訪 問 量：2026詳細介紹
| 品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
中圖儀器SJ5730測試表面粗糙度的儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。可廣泛應(yīng)用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)，可以對零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測，是大曲面測量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領(lǐng)域精細粗糙度測量的利器。
1、軸承測量、高穩(wěn)定、高精密
(1)具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，測試軸承內(nèi)外側(cè)。可選軸承夾具和滾子分析，方便測試。
(2)分辨率高達0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。
(3)超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、特殊紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)提供轉(zhuǎn)動的超高靈敏度及測量精度。
(4)高穩(wěn)定的驅(qū)動設(shè)計，確保了驅(qū)動運行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾，保障了系統(tǒng)掃描運動精度。
(5)精度標定臺能對儀器的參數(shù)和測針針尖磨損進行修正補償，使其滿足高精度輪廓測量。
2、操作靈活、智能、簡單
(1)輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。
(2)測針一鍵拔插，設(shè)計的高剛性拔插結(jié)構(gòu)，無需鎖螺釘，方便快捷、穩(wěn)定可靠。
(3)各個運動軸都有進行硬件及軟件保護，降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。
(4)帶舵機結(jié)構(gòu)，可防止掃描陡坡時的快速下墜。
(5)智能恒測力系統(tǒng)，0.5-3mN 測力檔位可調(diào)，降低了測力變化引起的測量誤差，適合測量各類軟、硬性工件。
(6)組合調(diào)節(jié)控制手柄可快速完成載物臺平移，X軸和Z軸定位，測桿上下擺動及速度分級調(diào)節(jié)功能。
(7)根據(jù)GB/T、ISO、JIS等標準，自動評價粗糙度。
(8)軟件操作界面簡潔直觀，任何人都能輕松設(shè)定和測量。
3、自動、批量、快速測量
(1)對于簡單的工件只需要設(shè)置測量長度即可一鍵測量；
對于復(fù)雜的工件，可以定工件的任意位置進行分段測量，并做成模板便于輪廓批量測量。
(2)CNC固定坐標系模式下，可快速精確地進行輪廓批量測量。
(3)自動保存測量結(jié)果，測量完成后可輸出測量報告，形式多樣。
SJ5730測試表面粗糙度的儀器通過超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能伺服驅(qū)動電機保證測量的超高穩(wěn)定性及直線度，采用超高精度納米衍射光學(xué)轉(zhuǎn)軸測量系統(tǒng)及高精度直線光柵X軸建立工件表面輪廓的二維坐標，計算機采用高精度標定系統(tǒng)對采樣數(shù)據(jù)進行修正標定，最終還原出工件輪廓信息并以曲線圖顯示出來，通過軟件提供的分析工具可對輪廓及微觀輪廓進行各種粗糙度參數(shù)、輪廓參數(shù)分析。
軸承輪廓測量
1.創(chuàng)建坐標：點線、兩點 X、兩線等工件坐標系。
2.量測工具：矩形框選提取最高點、矩形框選提取低點、矩形框選提取中心點、自動矩形取多點提取線、自動點捕捉取多點提取線、自動矩形提取螺紋中徑線、扇形框選提取弧/圓等。
3.構(gòu)建特征：交點、中心點、角平分線、切線、兩線內(nèi)切圓、二次取樣、垂線、平行線、特征偏移、兩圓弧內(nèi)切圓、直線旋轉(zhuǎn)等。
4.可測幾何量：點、線、圓（圓心坐標、半徑、直徑）、圓弧、中心、角度、垂線、線到線的距離、線到圓的距離、X/Z坐標夾角、坐標差、兩點之間總過程距離、面積等。
5.形位公差：直線度、圓度、平行度、垂直度、同軸度、位置度、輪廓度等形位公差評定。
6.快速工具：坐標標注、兩線交點、兩線夾角、螺牙框選取交點標注、臺階高、滾珠絲桿、框選Pt、溝槽寬度、偏移點與輪廓相交直線、偏移直線與輪廓相交點、基邊/基點標準等特殊工具快速測量。
7.具備自動找拐點功能，能按照程序設(shè)置進行X軸自動找拐點。
8.表面粗糙度評定： R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)。
9.支持公差設(shè)置、合格判定。
10.支持cnc、xml、dxf共3種格式的輪廓對比，如標準輪廓中有標注，可自動計算出對應(yīng)標注結(jié)果。
11.支持輪廓掃描數(shù)據(jù)的修改，包括刪除異常點來進行分析。
12.支持多條記錄按照統(tǒng)一基準進行拼接分析功能。
13.支持輪廓特征、標注特征、形位公差的顏色自定義管理。
| 型號 | SJ5730-100 | ||
輪廓參數(shù) | 測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
| 立柱 | 0~300mm | ||
| Z軸 | ±6mm（標準測針桿）（±12mm：選擇兩倍測針桿時） | ||
| 掃描速度（掃描軸） | 0.05～5mm/s | ||
| 直線度（掃描軸） | ≤0.2μm/100mm | ||
| 測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（電子檔位可調(diào)） | ||
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可選更大范圍） | |
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P輪廓參數(shù)： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波紋度輪廓參數(shù)： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif參數(shù)：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合標準： GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994， JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002。 | ||
| 滾子分析（選配） | 滾子凸度、位置距離、對數(shù)滾子母線、X鏡像曲線重合度， 分段不同公差 | ||
| 儀器尺寸（長×寬×高） | 600×350×890（mm） | ||
| 儀器總重量 | 110Kg | ||
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